紫外可見分光光度計測試雜散光的詳細(xì)步驟

更新時間：2024-03-05 點(diǎn)擊次數(shù)：3284

根據(jù)量子光學(xué)理論，波長是能量的倒數(shù)，波長短能量大，容易產(chǎn)生雜散光，而220nm處屬于短波部分；根據(jù)儀器學(xué)理論中的電光源理論，氘燈在220nm處能量很小，即信號很小，容易顯現(xiàn)雜散光。

因此，紫外可見分光光度計只測試220nm處的雜散光，不測試340nm處的雜散光，這樣是不正確的，需測試220nm處雜散光。因?yàn)楦鶕?jù)儀器學(xué)理論中的光電發(fā)射理論，光電倍增管在220nm處的光譜響應(yīng)（靈敏度）低，容易顯現(xiàn)雜散光。而測試340nm處雜散光的原因是*不同的，因?yàn)?40nm處一般是氘燈換鎢燈和儀器調(diào)換濾光片的地方，此時zui容易產(chǎn)生雜散光。

所以，對于紫外可見分光光度計來講，應(yīng)該測試220nm和340nm兩處的雜散光。紫外可見分光光度計雜散光測試步驟，首先將參比液注入配對石英石吸收池，分別放置在參比池座和試樣池座內(nèi)。再測定波段掃描基線并使之平滑。將減光片插入試樣光路的濾光片槽內(nèi)，其讀數(shù)即為減光片的衰減值K，然后將減光片插入?yún)⒈裙饴返臑V光片座內(nèi)，將石英吸收池中的蒸餾水依次換成上述截止濾光液，插入試樣試樣池座中，在相應(yīng)的波段內(nèi)掃描、打??；在記錄紙的作標(biāo)上量取測定波長處的透光度，乘以衰減值K，即得各測定波長處的雜散光值。

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